在上一篇文章中，我们确定了半导体测试面临的主要挑战，并展示了数据馈送/反馈 (DFF) 机制如何打破数据孤岛并实现测试过程的智能转型。在本文中，我们将重点关注核心 DFF 引擎 ACS Nexus，看看它如何在现实生产环境中创造价值，并促进从“执行”到“决策”的测试。核心能力：ACS Nexus 如何推动智能测试？在整个 ACS RTDI 平台中，ACS Nexus 是连接测试站点和数据智能的基本枢纽。主要功能概述： 实时数据收集：在测试过程中，ACS Nexus 不断收集测量、测试结果和设备状态等关键数据。智能数据流：支持测试过程中向后端传输数据，或者从后端反馈到前端，实现流程闭环。灵活的数据结构：支持标准和用户自定义数据ata适应不同客户的测试需求和场景。安全稳定传输：配备加密通信和异常处理机制，确保高负载环境下数据稳定。快速接入部署：支持标准化接口，让客户无需改变原有测试架构即可快速集成。开放接口：支持C++和Python，并允许测试程序和应用程序通过OneAPI和NexusTPI进行双向通信。极其易于使用 – ACS Nexus 力求其界面设计“简单而强大”，将尽可能多的复杂性封装在系统内。毫秒级响应：测试数据最快可毫秒级加载和查询，支持高并发场景。打通整个测试流程：DFF如何让数据参与实时决策？与传统的事后分析不同，DFF 机制允许来自不同在生产过程中实时协作并参与决策的各个阶段。工作流程如下： 1. 数据写入：在测试执行过程中，ACS Nexus 实时收集并上传标准测试数据（测量结果、容器结果等）。测试程序可以通过 NexusTPI 加载自定义数据，应用程序可以通过 OneAPI 加载统计和算法推理结果。 2.数据流向：所有数据在ACS统一服务器上根据用户配置的规则进行过滤，并可选择发送到后续测试阶段或发送到前端进程。例如，在上图中，晶圆测试数据被传输到测试和封装工厂的服务器。 3. 数据分析：在最终测试阶段，测试程序或应用程序可以通过NexusTPI/OneAPI查询给定芯片的晶圆阶段数据，并将其与当前测试数据相结合以执行完整的推理。 4. 实时决策：测试程序i通过NexusTPI与应用程序交互，获取最新的推理结果，从而动态调整后续的测试流程。这种闭环允许在测试过程中实现“即时响应”功能。数据不仅被记录，还可以作为驱动优化的基础，帮助客户制定更灵活、高效的测试策略。 智能应用部署：DFF如何在现实生产环境中创造价值？降低测试成本：自适应测试流程传统测试要求每个芯片都经过全面的测试流程。随着芯片变得越来越复杂、生产周期要求越来越短，这种测试方法面临着诸多挑战。换句话说，大量的测试项目需要大量的测试时间。固定顺序的测试流程无法满足客户的灵活性要求。优先考虑一些高风险的测试项目。这导致 r 的利用不足资源。借助 DFF，您可以： 1. 在最终测试开始之前，应用程序通过 OneAPI 从晶圆阶段的芯片检索数据，将其与当前数据相结合并进行分析。 2. 该算法识别低风险元素并生成跳过列表。跳过列表通过 NexusTPI 发送回测试程序。 3. 测试程序调整同一批次内的执行顺序，跳过重复测试，并对重要元素进行优先级排序。 4、后续测试结果也可以发送至晶圆厂，进一步优化下一批策略。通过这种数据驱动的阶段之间的动态调整，测试过程不再是“一刀切”，而是针对每个芯片进行动态调整，从而减少测试时间并保证质量。芯片质量提升：DFF+DPAT汽车芯片的可靠性要求非常高，任何缺陷都可能造成重大损失。 DPAT（动态参数测试和调整）基于当前批次数据和初始参数参考值通常是在测试一定数量的芯片后计算出来的。这意味着第一批货物全部面临风险。借助 DFF，您可以：当多个设备生产类似芯片时，DFF 允许这些设备共享数据，并允许 DPAT 算法根据更大的数据集动态调整测试限制，以更准确地识别潜在缺陷。测试程序在测试开始时获取最新的极限值，并将其应用于后续的参数测试，以降低误报率和PPM故障率。机器对机器数据协作将DPAT从“批量优化”升级为“全线优化”，以满足AEC-Q001 Rev-D等高标准。重新设计测试流程 半导体测试面临着快速增长的数据量、流程复杂性和效率压力。 DFF提出的新机制允许将不同阶段的数据链接起来。晶圆测试结果这使您可以预先优化封装测试并根据后端测试的数据反向调整你的前端策略。这种机制使得测试策略更加灵活，为质量控制提供更完整的数据支持。作为DFF的核心引擎，ACS Nexus提供开放接口和安全架构，支持客户算法的快速集成，帮助创建阶段之间的数据闭环，加速测试流程的智能化，推动制造业进入数据驱动时代。
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